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研究・表面分析用AFM

Park AFM オプション

Park AFMはすべて、モジュール式で改造が容易な設計を採用しているため、個々のニーズに合わせてAFMをカスタマイズできる豊富なオプションをご用意しています。従って、お客様のニーズに合ったPark社のAFM仕様で時間を無駄にせず実行できます。

XY スキャナー

Park AFMはすべて、モジュール式で改造が容易な設計を採用しているため、個々のニーズに合わせてAFMをカスタマイズできる豊富なオプションをご用意しています。

Z スキャナー ヘッド

弊社は、Park AFMの精度を向上させるために、これまでにさまざまなZスキャナーーヘッドを開発してまいりました。

サンプルマウント

サンプルマウントを使うことで、AFM測定のために様々な種類のサンプルを置くことができ、サンプルの固定やアクセスが容易になります。

Park アク―スティックエンクロージャー（AE)

Park AFMは、ナノメートルスケールの精度を実現し、ノイズを抑えて世界水準の精度を提供する、優れたアク―スティックエンクロージャーを備えています。

温度制御

最先端の温度制御オプションで、ポリマーや生物学的サンプルの特異な現象を探索できます。

環境制御

酸素、湿度、CO2、pH、温度をコントロールすることで、反応性物質を保護し、研究を促進します。

液中セル

制御された液体環境における生物学的研究のための多用途なソリューションを提供します。

プローブハンド

カンチレバーとZスキャナーーを接続し、幅広い測定に対応することで、最高品質のデータ取得を可能にします。

アクセサリ

より多様で具体的なニーズにもお応えできるよう、さらなるカスタマイズに対応したさまざまな追加アクセサリーを豊富に提供しています。

Park Nanostandard

The calibration standard samples for atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM) measurements.

Park Nanostandard

The calibration standard samples for atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM) measurements. Manufactured by Kims Reference Corp.